Nasze serwisy używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Więcej informacji odnośnie plików cookies.

Obowiązek informacyjny wynikający z Ustawy z dnia 16 listopada 2012 r. o zmianie ustawy – Prawo telekomunikacyjne oraz niektórych innych ustaw.

Wyłącz komunikat

 
 

Logowanie

Logowanie za pomocą Centralnej Usługi Uwierzytelniania PRz. Po zakończeniu pracy nie zapomnij zamknąć przeglądarki.

Elektrotechnika

Elektrotechnika
34(1/2015), DOI: 10.7862/re.2015.3

Karty kontrolne Shewharta przy ocenie liczbowej w programie STATISTICA

Wiesława Malska

DOI: 10.7862/re.2015.3

Streszczenie

Programy statystyczne umozliwiają statystyczną analizę danych, a także stwarzają możliwości zastosowania zaawansowanych procedur, w tym możliwość zastosowania kart kontrolnych Shewharta w SPC (Statistical Process Control). Karty kontrolne są stosowane od lat trzydziestych XX wieku jako narzędzia statystycznego sterowania procesami. W artykule zaprezentowano zastosowanie karty kontrolnej Shewharta przy ocenie liczbowej. Zaprezentowano kartę kontrolną typu X – średnie (średnia arytmetyczna) i R (rozstęp). Jest to karta umożliwiająca kontrolę cechy mierzalnej produktu lub wyrobu. Na kartę nanoszone są wartości średnie wyników pomiaru elementów próbek, pobieranych w regularnych odstępach czasu z procesu poddawanego kontroli (kiedy jest to możliwe z technicznego i ekonomicznego punktu widzenia). Analiza kart kontrolnych sprowadza się do tego, aby na podstawie otrzymanych wyników stwierdzić czy proces, który jest monitorowany przebiega prawidłowo, czy jest już rozregulowany. Karty kontrolne przy ocenie liczbowej można stosować wówczas, gdy dane pomiarowe mają rozkład normalny. W najbardziej standardowym ujęciu mamy do czynienia z dwiema kartami i dwoma histogramami. Jedna z kart nazywana jest kartą X - średnie, a druga nazywana jest kartą R. Na obu wykresach oś pozioma (odciętych) przedstawia kolejne próbki. W  przypadku karty X-średnie, oś pionowa (rzędnych) przedstawia wartość średnią badanej zmiennej (badanej cechy), natomiast w przypadku karty R na tej osi wykreśla się rozstęp badanej zmiennej. Karta X - średnie i R jest najczęściej stosowaną kartą kontrolną przy ocenie liczbowej. Celem statystycznego sterowania procesem jest doprowadzenie go do stabilnego i akceptowalnego poziomu, utrzymaniu go na tym poziomie, oraz zapewnienie spełniania yspecyfikowanych wymagań przez produkty (wyroby) lub usługi. Głównym narzędziem statystycznym używanym w tym celu jest karta kontrolna.

Pełny tekst (pdf)

Literatura

[1] Greber T., Statystyczne sterowanie procesami – doskonalenie jakości z pakietem STATISTICA, Statsoft, Kraków, 2000
[2] www.statsoft.pl
[3] Luszniewicz A., Słaby T., Statystyka z pakietem komputerowym STATISTICA PL, Wydawnictwo Beck, Warszawa, 2008
[4] Starzyńska W., Statystyka praktyczna, PWN, Warszawa, 2005
[5] Stanisławek J., Podstawy statystyki, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2010
[6] Ostasiewicz W., Myślenie statystyczne, Oficyna a Wolters Kluwer business, Warszawa, 2012
[7] Rabiej M., Statystyka z programem Statistica, Helion, 2012
[8] Kot S., Jakubowski J., Sokołowski A., Statystyka, Wydawnictwo Difin, Warszawa, 2011
[9] Sobczyk M., Statystyka, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa, 2002
[10] Wieczorkowska G., Wierzbiński J., Statystyka od teorii do praktyki, Wydawnictwo Naukowe SCHOLAR, Warszawa, 2013
[11] Piłatowska M., Repetytorium ze statystyki, PWN, Warszawa, 2009

Podsumowanie

TYTUŁ:
Karty kontrolne Shewharta przy ocenie liczbowej w programie STATISTICA

AUTORZY:
Wiesława Malska

AFILIACJE AUTORÓW:
Wiesława Malska, Politechnika Rzeszowska, Katedra Energoelektroniki i Elektroenergetyki,
ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów

WYDAWNICTWO:
Elektrotechnika
34(1/2015)

SŁOWA KLUCZOWE:
karty kontrolne, średnia arytmetyczna, rozstęp, histogram, statystyczne sterowanie procesem

PEŁNY TEKST:
http://doi.prz.edu.pl/pl/pdf/elektrotechnika/33

DOI:
10.7862/re.2015.3

URL:
http://dx.doi.org/10.7862/re.2015.3

DATA WPŁYNIĘCIA DO REDAKCJI:
2015-02-10

PRAWA AUTORSKIE:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, al. Powstańców Warszawy 12, 35-959 Rzeszów

POLITECHNIKA RZESZOWSKA im. Ignacego Łukasiewicza; al. Powstańców Warszawy 12, 35-959 Rzeszów
tel.: +48 17 865 11 00, fax.: +48 17 854 12 60
Administrator serwisu: